WaferView

Der WaferView basiert auf die 3D Darstellung von Gerber -Dateien die von einem Substrat/Wafer -Hersteller zur Positionsbestimmung von Pads und Kontakt Informationen verwendet wird. Die in einer Gerber -Datei abgelegten Informationen erfolgen im ASCII Format, somit ist sichergestellt das auch sehr alte Daten in der Zukunft lesbar bleiben.

WaferView 3D Darstellung überlagerter Gerber -Dateien

Gerber ASCIII -Dateien liegen im Klartext vor

Gerber Dateien können Millionen von Datenpunkten enthalten, zusätzlich zu den X Y Pärchen werden oft Zusatz Informationen wie Durchmesser oder Fehlerklasse in die Z Ordinate übertragen  die dann z.b.  als D gekennzeichnet in der Datei vorkommt. Es bedarf sehr schnelle Parser die diese Informationen in Vektorlisten übertragen, damit die OpenGL -Engine in der Lage ist alle Informationen über die Grafikhardware abzubilden.

Frei begehbar

Einen 3D -Wafer in seiner Datengröße zu beschreiben erfordert eine Virtualisierung die moderne Grafikkarten mit dem Industriestandard OpenGL gewährleisten. WaferView ermöglicht nicht nur eine 2Dimensionale Draufsicht die stufenlos Skalierbar/Zoombar ist , sondern auch eine 3D -Begehung der Oberfläche wie in einem 3D- Computerspiel mit der W,S,A,D -Steuerung.

Wafer Fehlerraporte

Die so dargestellten Überlagerungen können in einer von oben dargestellten Draufsicht so abgebildet werden, das der Wafer in grafischen Segmenten zerlegt dargestellt wird indem die Segment Farbe der der meisten Fehler Klassen dieser Sektion entspricht. Dies kann dann auch als Umlaufzertifikat ausgedruckt werden um die Gesamt Qualität des Wafers zu beschreiben.

Fehlerklassen Ausdruck

Der Ausdruck der Fehlerklassen kann über sämtlich installierte Drucker, oder in virtuellen PDF oder XPF sowie Plot Files ausgegeben werden.